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水泥比長儀千分表刻度值測量氫光譜
  • 發(fā)布日期:2023-10-24      瀏覽次數(shù):326
    • 水泥比長儀主要用于測定水泥膠砂試件各齡期的干縮率和膨脹水泥各齡期的膨脹率。用于按《水泥膠砂干縮試驗方法》(GB751-81)的要求測定水泥試件各齡期的干縮率及按JC313-82標準測定膨脹率。
      比長儀是由1、千分表2、上測頭3、90°V型槽支架4、下測頭5標準桿6、底座等組成。它具有使用方便、測量精度高、速度快、讀數(shù)清楚等優(yōu)點。為了滿足用戶的使用要求,支架采用V型槽式,上下測頭采用平面測頭,這種方法提高了測量精度和*確性,可供廣大用戶試驗檢測用。
      技術參數(shù):
      千分表刻度值:0.001mm 
      千分表量程:指針:0-1mm,數(shù)顯:0-12.7mm
      測量范圍:砂漿用比長儀千分表158-161mm電子千分表158-165mm
      注:可配百分表,千分表(數(shù)顯式/指針式)

      JCSP開放式光柵光譜實驗儀

      光路調節(jié)開放式,光源準直透鏡、光譜成像透鏡、光柵架可調,能鮮明地觀察到零級、一級和二級譜線分布狀況(600L/mm)。微機實時采集,USB接口
      實驗內容:
      光譜儀光學元件相互幾何關系調節(jié),加深對各個元件作用的理解;
      觀察零級、一級、二級譜線分布狀況與光柵轉角的關系;
      光譜定標的原理和方法;
      測量氫光譜,鈉光譜及其它光譜實驗
      波長范圍:300-900nm ;
      焦    距:790 mm;
      光   柵:1200L/mm或600L/mm;  
      接收器件:線陣CCD; 
      波長分辨率: 優(yōu)于0.04nm(1200L/mm); 優(yōu)于0.08nm(600L/mm);
      微機接口:USB
      體    積:0.7m*0.3m*0.25m

      CNM-354混凝土限制膨脹率測定儀/混凝土砼比長儀

      千分表刻度值:0.001mm
      千分表量程:指針:0-1mm,數(shù)顯:0-12.7mm
      測量范圍:混凝土用354型比長儀千分表354-357mm電子千分表354-361mm
      測頭平面直徑:6.5mm
      標準基桿長:
      混凝土用354型比長儀354mm(數(shù)顯百分表可選配)
      主要由立柱、底座、夾持架及測量儀器表組成。立柱下端插入底座,并以螺母擰定在底座上,不宜經常拆卸。夾持的一端套入立桿并通過鎖緊螺絲夾緊在立柱上,鎖緊螺釘應在夾持架調整就位后頂緊立柱以防旋轉或滑動。
      混凝土比長儀夾持架的另一端用以插置測量儀表,并借鎖緊螺釘予以夾緊固定或松開后調節(jié)測量儀表上下移動。下支承用螺母擰定在底座上供插上供插裝試用件,一般不宜拆動,頂腳一端為凹坑,在試驗時應套入試件的頂頭,另一端M2.5螺紋與測量儀表緊固,注意同軸度。
      使用和維護:
      用本儀器作為混凝土試驗或測量膨脹率、自應力值時,均需采用兩端裝有球形頂頭的標準試件以及相應的成型養(yǎng)護方法。
      器應在無震動環(huán)境中,在橡皮墊上平穩(wěn)安放,試驗室的室溫應控制在17—25℃為佳,每次試驗安放試件前,應將試件兩端的頂頭表面擦凈,同時用稍濕棉紗細團擦凈儀器的上、下支承面(指下支承孔及觸頭孔),以免沙粒落入,影響測量精度。然后校對百分表的零點(可用手指輕擊表面玻璃定表針位置)。讀數(shù)時可將試件稍移動,使試件頂頭與儀器的上、下支承面正確接觸,測量應精確至0.01毫米或0.001毫米。如指針出現(xiàn)擺動時,可取擺動范圍內的平均讀數(shù)。
      儀器如長期不用,則應在擦凈表面后,在非鍍面上一層薄機油并用塑料膜蓋罩,以防銹蝕。
      裝箱單:
      儀器主架1套
      百分表1塊
      說明書1本
      裝箱單1份
      合格證1份
      驗前準備:
      1、試模
      A、試模:用鑄鐵制成的試模
      B、模板頂端具有安置測量釘頭的小孔,小孔位置必須保證測量釘頭在試體的中心線上。
      2、釘頭
      A、測量釘頭伸人試體深度應為15±1毫米。釘頭內側之間的長度應保證試體的有效長度為250±2.5毫米。
      B、釘頭用不銹鋼或銅制做。
      使用注意事項:
      1、每次測量前,比長儀必須放平并校正表針零點位置 
      2、測量時,應將試體和釘頭擦凈。試體放入比長儀的上下位置應固定(將試體標記編號的一端向上)。

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