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晶體電光效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀電光晶體
  • 發(fā)布日期:2023-06-26      瀏覽次數(shù):536
    • 晶體電光效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀是04綜合光學(xué)實(shí)驗(yàn)儀的組成部分;也可以單獨(dú)做實(shí)驗(yàn)。
      實(shí)驗(yàn)內(nèi)容:
      掌握電光調(diào)制的原理及方法。
      觀察晶體的單晶干涉現(xiàn)象,以及由電光效應(yīng)引起晶體折射率變化而產(chǎn)生的雙晶干涉現(xiàn)象。
      極值法測量晶體半波電壓,計(jì)算電光系數(shù)。
      加載調(diào)制電壓觀察倍頻現(xiàn)象并測量晶體半波電壓。
      模擬激光通信(需增配選購件)
      特點(diǎn):
      連續(xù)可調(diào)的0~800V高壓直流電源及0~100V交流調(diào)制信號,確保觀察到多次倍頻現(xiàn)象。
      三數(shù)字表分別顯示直流高壓、調(diào)制信號電壓和接收到的光電信號電壓。
      電光晶體:LiNbO3
      光源:半導(dǎo)體激光器,功率可調(diào)
      可明顯觀察到晶體由單軸晶體變化到雙軸晶體的過程,以及由加載電壓變化引起的雙晶干渉的變化趨勢。
      模擬通信實(shí)驗(yàn)可直觀的體現(xiàn)電光調(diào)制的原理。

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      JCP6透鏡望遠(yuǎn)鏡顯微鏡綜合實(shí)驗(yàn)儀透鏡望遠(yuǎn)鏡顯微鏡綜合實(shí)驗(yàn)儀是04綜合光學(xué)實(shí)驗(yàn)儀的組成部分;也可以單獨(dú)做實(shí)驗(yàn)。
      通過對透鏡及其組合成的顯微鏡系統(tǒng)和望遠(yuǎn)鏡系統(tǒng)進(jìn)行成像實(shí)驗(yàn)測量,可完成以下實(shí)驗(yàn):
      通過二次成像法測量三種不同透鏡的焦距。
      組合安裝伽利略和開普勒兩種結(jié)構(gòu)的望遠(yuǎn)鏡,熟悉望遠(yuǎn)鏡的基本原理,計(jì)算視場放大率。
      組合安裝內(nèi)調(diào)焦望遠(yuǎn)鏡,熟悉望遠(yuǎn)鏡的內(nèi)調(diào)焦原理,計(jì)算視場放大率。
      組合安裝顯微鏡,熟悉顯微鏡的基本原理,計(jì)算視場放大率。

      JC99CCD微機(jī)精密測徑實(shí)驗(yàn)儀

      用具有5000像元的線陣CCD器件,每像元僅7微米,空間分辨率遠(yuǎn)高于面陣CCD,12位A/D量化,圖像細(xì)膩,分裂環(huán)的光強(qiáng)分布曲線與理論課內(nèi)容吻合,并顯示出更多的細(xì)節(jié),無需人工干預(yù)修正,定圓心等額外處理,實(shí)驗(yàn)精度≤2%,優(yōu)于面陣CCD方案。

      JCP7光電池光電器件綜合實(shí)驗(yàn)儀

      光電池光電器件綜合實(shí)驗(yàn)儀是04綜合光學(xué)實(shí)驗(yàn)儀的組成部分;也可以單獨(dú)做實(shí)驗(yàn)。
      可以對光電池,光電阻和光電二極管這三種光電元件的特性進(jìn)行測量,使學(xué)生對伏安特性,光強(qiáng)變化以及功率與電阻的關(guān)系等物理現(xiàn)象加深了解。
      實(shí)驗(yàn)內(nèi)容:
      光電池的開路電壓測量,功率與電阻的關(guān)系,填充因子測量,光強(qiáng)變化與開路電壓之間的關(guān)系以及光電池在黑暗狀態(tài)下作二極管用的伏安特性測量。
      光電阻的伏安特性測量,光強(qiáng)變化對光電阻的電壓影響。
      光電二極管的伏安特性測量。

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